NF T51-024-1981 塑料.小负荷穿透测定硬度指数
时间:2024-05-19 04:32:48 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9034
【英文标准名称】:PLASTICS.DETERMINATIONOFAHARDNESSINDEXUNDERALOWINDENTATIONLOAD.
【原文标准名称】:塑料.小负荷穿透测定硬度指数
【标准号】:NFT51-024-1981
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1981-12
【实施或试行日期】:1981-11-03
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;硬度试验;聚乙烯;热塑性树脂;热塑性聚合物;压痕硬度试验;试验;试验条件;塑料
【英文主题词】:mechanicaltests;plastics;indentationhardnesstests;hardnesstesting;tests;testing;mechanicaltesting;testingconditions;polyethylene;thermoplasticresins;thermoplasticpolymers
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:
【页数】:8P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:船用20kgf/cm**2锻钢角阀
【标准号】:JISF7422-1989
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1989-06-15
【实施或试行日期】:1989-06-15
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:钢;锻件;船用管道系统;旋压阀;角形;海船
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:U53
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件 ３ＤＤ６型功率晶体管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete device-Detail specification for Type 3DD6 power transistor |
| 中标分类： |
矿业 >>
矿业综合 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中国电子工业总公司 |
| 发布日期： | 1992-11-19 |
| 实施日期： | 1993-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 蔡仁明、任慧敏、周志坤、罗德炎 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1993-04-01 |
| 页数： | 12页 |
适用范围
本规范规定了3DD6B~I型功率晶体管的详细要求。每种器件均按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级).
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GB 4587-1984 双极型晶体管测试方法
GB 7092-1986 半导体集成电路外形尺寸
GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
所属分类： 矿业 矿业综合 技术管理